| GB/T 4937.37-2025 |
半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法 |
2025-12-31 |
2026-07-01 |
即将实施 |
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| GB/T 6379.4-2025 |
测量方法与结果的准确度（正确度与精密度） 第4部分：确定标准测量方法正确度的基本方法 |
2025-12-31 |
2026-07-01 |
即将实施 |
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| GB/T 44937.6-2025 |
集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法 |
2025-12-31 |
2026-07-01 |
即将实施 |
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| GB/T 4937.10-2025 |
半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分：机械冲击 器件和组件 |
2025-12-31 |
2026-07-01 |
即将实施 |
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| GB/T 4937.33-2025 |
半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分：加速耐湿 无偏置高压蒸煮 |
2025-12-02 |
2026-07-01 |
即将实施 |
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| GB/T 37932-2025 |
数据安全技术 数据交易服务安全要求 |
2025-12-02 |
2026-07-01 |
即将实施 |
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| GB/T 4937.36-2025 |
半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分：稳态加速度 |
2025-12-02 |
2026-07-01 |
即将实施 |
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| GB/T 4937.38-2025 |
半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法 |
2025-12-02 |
2026-07-01 |
即将实施 |
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| GB/T 4937.44-2025 |
半导体器件 机械和气候试验方法 第44部分：半导体器件的中子辐照单粒子效应（SEE）试验方法 |
2025-12-02 |
2026-07-01 |
即将实施 |
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| GB/T 4937.29-2025 |
半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验 |
2025-12-02 |
2026-07-01 |
即将实施 |
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